浙江多功能電阻測試供應商

什么是導電陽(yáng)極絲測試CAF導電陽(yáng)極絲測試（Conductiveanodicfilamenttest，簡(jiǎn)稱(chēng)CAF）是電化學(xué)遷移的其中一種表現形式。它與表面樹(shù)狀生長(cháng)的區別：1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅，而不是鉛或者錫；2.金屬絲是從陽(yáng)極往陰極生長(cháng)的；3.金屬絲是由金屬鹽組成，而不是中性的金屬原子組成。焊盤(pán)中的銅金屬是金屬離子的主要來(lái)源，在陽(yáng)極電化學(xué)生成，并沿著(zhù)樹(shù)脂和玻璃增強纖維之間界面移動(dòng)。隨著(zhù)時(shí)代發(fā)展和技術(shù)的革新，PCB板上出現CAF的現象卻越來(lái)越嚴重，究其原因，是因為現在電子設備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來(lái)越多，這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來(lái)越短，這樣就更加容易在兩個(gè)金屬電極之間產(chǎn)生CAF現象。SIR表面絕緣電阻測試的目的之一：變更回流焊或波峰焊工藝。浙江多功能電阻測試供應商

電阻測試

ROSE是用2-丙醇和水溶液，通過(guò)手工、動(dòng)態(tài)和靜態(tài)三種方法萃取板表面的任何殘留物。通常是將整個(gè)板子浸入溶液中，然后測量這種萃取物的電阻率，測量值由板子表面所有可溶性離子種類(lèi)的離子含量決定。每種萃取方法在如何準確地實(shí)現這一過(guò)程上各不相同。通常，測試電阻率是不夠的，因為它不能區分是哪些離子導致萃取電阻率下降。為了評估哪些離子存在，必須進(jìn)行額外的離子色譜檢測。通過(guò)允許操作人員從過(guò)程中識別離子含量的來(lái)源，來(lái)完成測試。此外，過(guò)程控制從組裝工藝的開(kāi)始就要進(jìn)行，線(xiàn)路板和元器件的進(jìn)廠(chǎng)清潔度與組裝的終清潔度同樣重要。這也可以通過(guò)一種能夠在較小規模上從表面萃取的測試方法更有效地實(shí)現。浙江多功能電阻測試供應商廣州維柯GWHR-256 產(chǎn)品優(yōu)勢：結構、配置靈活：板卡設計，可選擇 16 路N(1≥N≤16)。

助焊劑等級分類(lèi)所有的測試完成后，編輯L、M和H的測試數據，所有測試數據的比較高值決定助焊劑的等級。例如，一款助焊劑的活性等級要定為L(cháng)，就需要五項測試中每個(gè)結果都是L_才可以。每個(gè)測試從不同的角度來(lái)量化電遷移的傾向性。ECM和SIR測試接近組裝產(chǎn)品在使用壽命時(shí)間里容易產(chǎn)生電化學(xué)遷移的情況。它們都是在更高的溫濕度下進(jìn)行加速測試，并且發(fā)展成為表明可靠性的一種標準。當前SIR測試方法擅長(cháng)用標準化的方式測試電化學(xué)遷移的傾向性。這種測試更接近真實(shí)失效機理。由于監測頻率的關(guān)系，這種測試能夠捕捉到絕緣電阻的波動(dòng)。這種波動(dòng)可能表示枝晶形成然后又溶解了。這就可以不依賴(lài)于災難性故障來(lái)指示潛在的問(wèn)題。

有數據統計90%以上的電阻在大氣環(huán)境中使用[1]，因此不可避免地受到工作環(huán)境中的溫度、濕度、灰塵顆粒及大氣污染物的影響，很容易發(fā)生電化學(xué)遷移。電化學(xué)遷移被認為是電阻在電場(chǎng)與環(huán)境作用下發(fā)生的一種重要的失效形式，會(huì )導致產(chǎn)品在服役期間發(fā)生漏電、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的電路板使用大約2年后其內部電阻存在短路失效的情況。1.1機械開(kāi)封機械開(kāi)封后1#電阻樣品表面形貌如圖1所示，可明顯發(fā)現電阻表面有一層金屬光澤異物粘附，異物呈樹(shù)枝狀結晶，由一端電極往另一端電極方向生長(cháng)，并連接了電阻兩端電極；一端電表表面發(fā)生溶解，且溶解的端電極表面存在黑色腐蝕產(chǎn)物。通過(guò)表面絕緣電阻（SIR）測試數據可以直接反映PCB的清潔度。

為SAC305開(kāi)發(fā)了加熱曲線(xiàn)，其熔點(diǎn)范圍為217–220°C。針對相似的工藝窗口的四種回流曲線(xiàn)，分別為標準回流曲線(xiàn)、模擬返修站的自然(快速)冷卻曲線(xiàn)、自然冷卻條件下的較低峰值曲線(xiàn)，以及延長(cháng)冷卻條件下的低峰值曲線(xiàn)。圖4中所示的爐溫曲線(xiàn)是由一臺爐溫測試儀測試的回流爐的曲線(xiàn)，和由電偶測量的返工臺的曲線(xiàn)。返修工位曲線(xiàn)升溫時(shí)間更短，為了便于峰位和TAL的比較，對溫度曲線(xiàn)進(jìn)行了輕微的偏移。為SAC305開(kāi)發(fā)了加熱曲線(xiàn)，其熔點(diǎn)范圍為217–220°C。針對相似的工藝窗口的四種回流曲線(xiàn)，分別為標準回流曲線(xiàn)、模擬返修站的自然(快速)冷卻曲線(xiàn)、自然冷卻條件下的較低峰值曲線(xiàn)，以及延長(cháng)冷卻條件下的低峰值曲線(xiàn)。圖4中所示的爐溫曲線(xiàn)是由一臺爐溫測試儀測試的回流爐的曲線(xiàn)，和由電偶測量的返工臺的曲線(xiàn)。返修工位曲線(xiàn)升溫時(shí)間更短，為了便于峰位和TAL的比較，對溫度曲線(xiàn)進(jìn)行了輕微的偏移。接口友好：軟件可定制，或開(kāi)放數據接口，或接入實(shí)驗室LIMS系統。浙江多功能電阻測試供應商

摒棄老的設備系統集成觀(guān)念！浙江多功能電阻測試供應商

失效機理分析及防護策略結合以上結果，電阻失效是由于經(jīng)典電化學(xué)遷移引起（ElectrochemicalMigration,ECM）。其中失效模型包含Ag、Sn、Pb等金屬元素，指的是在一定的偏壓電場(chǎng)條件下，作為陽(yáng)極的電子元件發(fā)生陽(yáng)極金屬溶解，溶解到電解質(zhì)中的金屬離子在電場(chǎng)作用下遷移到陰極，并發(fā)生沉積還原的行為，終導致金屬離子以樹(shù)枝狀結晶形式向陽(yáng)極生長(cháng)[6]。因此電化學(xué)遷移現象有三個(gè)必要的過(guò)程：(1)陽(yáng)極溶解形成金屬離子過(guò)程；(2)金屬離子遷移過(guò)程；(3)金屬離子在陰極沉積過(guò)程[7]。浙江多功能電阻測試供應商

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